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Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne - Suisse : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : c2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 1 vol. (XVI-579 p.) Présentation : ill., couv. ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Prix : 64,50 EUR Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne - Suisse (Lausanne - Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, c2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5 : 64,50 EUR
Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Réservation
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Titre : Chemical crystallography : an introduction to optical and X-ray methods Type de document : texte imprimé Auteurs : C. W. (Charles William) Bunn, Auteur Mention d'édition : 2e éd Editeur : Oxford [Royaume-Uni] : Clarendon Press Année de publication : 1961 Importance : 509 p. Présentation : ill., diagr. Format : 24 cm Note générale : "References and name index" p. [475]-493 Langues : Anglais (eng) Catégories : Cristallographie à rayons X ; Cristallographie chimique ; Optique cristalline ; Polymorphisme (Cristallographie) ; Rayons X -- Diffraction ; Stéréochimie Index. décimale : 548.3 Chemical crystallography : an introduction to optical and X-ray methods [texte imprimé] / C. W. (Charles William) Bunn, Auteur . - 2e éd . - Oxford (Royaume-Uni) : Clarendon Press, 1961 . - 509 p. : ill., diagr. ; 24 cm.
"References and name index" p. [475]-493
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Cristallographie à rayons X ; Cristallographie chimique ; Optique cristalline ; Polymorphisme (Cristallographie) ; Rayons X -- Diffraction ; Stéréochimie Index. décimale : 548.3 Exemplaires
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Titre : Powder diffraction file Type de document : texte imprimé Auteurs : Joint Committee on Powder Diffraction Standards ; L. G. Berry Mention d'édition : Rev. ed. Editeur : Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis] : Joint Committee on Powder Diffraction Standards Année de publication : 1974 Importance : 2 v. Format : 24 cm Note générale : Sets 1-10 were publ. by the American Society for Testing and Materials. "Compiled under the auspices of the Joint Committee on Chemical Analysis by Powder Diffraction Methods ... [et al.]" Revised edition of publication formerly issued in card form. Langues : Anglais (eng) Catégories : Poudres -- Proprietes optiques ; Rayons X -- Diffraction Index. décimale : 548.83 Powder diffraction file [texte imprimé] / Joint Committee on Powder Diffraction Standards ; L. G. Berry . - Rev. ed. . - Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis] (Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis]) : Joint Committee on Powder Diffraction Standards, 1974 . - 2 v. ; 24 cm.
Sets 1-10 were publ. by the American Society for Testing and Materials. "Compiled under the auspices of the Joint Committee on Chemical Analysis by Powder Diffraction Methods ... [et al.]" Revised edition of publication formerly issued in card form.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Poudres -- Proprietes optiques ; Rayons X -- Diffraction Index. décimale : 548.83 Exemplaires
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Titre : Powder diffraction file Type de document : texte imprimé Auteurs : Joint Committee on Powder Diffraction Standards ; L. G. Berry Mention d'édition : Rev. ed. Editeur : Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis] : Joint Committee on Powder Diffraction Standards Année de publication : 1967 Importance : xi, 701 p. : Présentation : ill. Format : 24 cm Note générale : Sets 1-10 were publ. by the American Society for Testing and Materials. "Compiled under the auspices of the Joint Committee on Chemical Analysis by Powder Diffraction Methods ... [et al.]" Revised edition of publication formerly issued in card form. Langues : Anglais (eng) Catégories : Chimie inorganique -- Tables ; Poudres -- Propriétés optiques -- Tables ; Radiocrystallographie -- Tables ; Rayons X -- Diffraction Index. décimale : 548.83 Powder diffraction file [texte imprimé] / Joint Committee on Powder Diffraction Standards ; L. G. Berry . - Rev. ed. . - Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis] (Swarthmore [Pennsylvanie - Etats-Unis]) : Joint Committee on Powder Diffraction Standards, 1967 . - xi, 701 p. : : ill. ; 24 cm.
Sets 1-10 were publ. by the American Society for Testing and Materials. "Compiled under the auspices of the Joint Committee on Chemical Analysis by Powder Diffraction Methods ... [et al.]" Revised edition of publication formerly issued in card form.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Chimie inorganique -- Tables ; Poudres -- Propriétés optiques -- Tables ; Radiocrystallographie -- Tables ; Rayons X -- Diffraction Index. décimale : 548.83 Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité aucun exemplaire
