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Titre : An introduction to crystal chemistry Type de document : texte imprimé Auteurs : Robert Crispin Evans Mention d'édition : 2e éd Editeur : Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] : Cambridge University Press Année de publication : 1964 Importance : xii, 410 p. Présentation : ill., tabl., diagr. Format : 24 cm Note générale : Éd. précédente : 1939.
Biblio. p. 398-400. IndexLangues : Anglais (eng) Catégories : Chimie physique et théorique ; Cristallochimie -- Manuels ; Cristallographie Index. décimale : 548 Résumé : First published in 1964, as the second edition of a 1939 original, this well-known textbook presents the fundamental principles of crystal chemistry at a level that was suitable for undergraduate students of chemistry, physics, metallurgy, mineralogy and related subjects at the time of its publication Note de contenu : Some important figures and tables -- Preface -- PART I. GENERAL PRINCIPLES OF CRYSTAL ARCHITECTURE: Ch. 1. Introduction -- Ch. 2. Interatomic binding forces and atomic structure -- Ch. 3. The ionic bond and some ionic structures -- Ch. 4 The covalent bond and some covalent structures -- Ch. 5. The metallic bond and the structures of some metallic elements -- Ch. 6. The van der Waals bond -- PART II. SYSTEMATIC CRYSTAL CHEMISTRY: Ch. 7. The elements -- Ch. 8. The structures of some simple compounds -- Ch. 9. Some structural principles -- Ch. 10. Structures containing complex ions I -- Ch. 11. Structures containing complex ions II -- Ch. 12. The structures of some compounds containing hydrogen -- Ch. 13. Alloy systems -- Ch. 14. Organic structures -- Appendices -- Index An introduction to crystal chemistry [texte imprimé] / Robert Crispin Evans . - 2e éd . - Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] (Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni]) : Cambridge University Press, 1964 . - xii, 410 p. : ill., tabl., diagr. ; 24 cm.
Éd. précédente : 1939.
Biblio. p. 398-400. Index
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Chimie physique et théorique ; Cristallochimie -- Manuels ; Cristallographie Index. décimale : 548 Résumé : First published in 1964, as the second edition of a 1939 original, this well-known textbook presents the fundamental principles of crystal chemistry at a level that was suitable for undergraduate students of chemistry, physics, metallurgy, mineralogy and related subjects at the time of its publication Note de contenu : Some important figures and tables -- Preface -- PART I. GENERAL PRINCIPLES OF CRYSTAL ARCHITECTURE: Ch. 1. Introduction -- Ch. 2. Interatomic binding forces and atomic structure -- Ch. 3. The ionic bond and some ionic structures -- Ch. 4 The covalent bond and some covalent structures -- Ch. 5. The metallic bond and the structures of some metallic elements -- Ch. 6. The van der Waals bond -- PART II. SYSTEMATIC CRYSTAL CHEMISTRY: Ch. 7. The elements -- Ch. 8. The structures of some simple compounds -- Ch. 9. Some structural principles -- Ch. 10. Structures containing complex ions I -- Ch. 11. Structures containing complex ions II -- Ch. 12. The structures of some compounds containing hydrogen -- Ch. 13. Alloy systems -- Ch. 14. Organic structures -- Appendices -- Index Exemplaires
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Titre : An introduction to crystal chemistry Type de document : texte imprimé Auteurs : Robert Crispin Evans, Auteur Mention d'édition : 1ère éd. brochée avec corr. Editeur : Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] : Cambridge University Press Année de publication : 1966 Importance : xii, 411 p. Présentation : ill., diagr., tabl., Format : 23 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-09367-5 Note générale : 1ère éd. brochée de la 2e éd., 1964, avec. corrections. Réimpression avec corrections en 1976. Version électronique, University Microfilms, Ann Arbor, Michigan, 1989.
Bibliogr. p. 398-400Langues : Anglais (eng) Catégories : Chimie physique et théorique ; Cristallochimie ; Cristallochimie -- Manuels ; Cristallographie ; Cristaux Index. décimale : 548 Résumé : First published in 1964, as the second edition of a 1939 original, this well-known textbook presents the fundamental principles of crystal chemistry at a level that was suitable for undergraduate students of chemistry, physics, metallurgy, mineralogy and related subjects at the time of its publication Note de contenu : Some important figures and tables -- Preface -- PART I. GENERAL PRINCIPLES OF CRYSTAL ARCHITECTURE: Ch. 1. Introduction -- Ch. 2. Interatomic binding forces and atomic structure -- Ch. 3. The ionic bond and some ionic structures -- Ch. 4 The covalent bond and some covalent structures -- Ch. 5. The metallic bond and the structures of some metallic elements -- Ch. 6. The van der Waals bond -- PART II. SYSTEMATIC CRYSTAL CHEMISTRY: Ch. 7. The elements -- Ch. 8. The structures of some simple compounds -- Ch. 9. Some structural principles -- Ch. 10. Structures containing complex ions I -- Ch. 11. Structures containing complex ions II -- Ch. 12. The structures of some compounds containing hydrogen -- Ch. 13. Alloy systems -- Ch. 14. Organic structures -- Appendices -- Index An introduction to crystal chemistry [texte imprimé] / Robert Crispin Evans, Auteur . - 1ère éd. brochée avec corr. . - Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] (Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni]) : Cambridge University Press, 1966 . - xii, 411 p. : ill., diagr., tabl., ; 23 cm.
ISBN : 978-0-521-09367-5
1ère éd. brochée de la 2e éd., 1964, avec. corrections. Réimpression avec corrections en 1976. Version électronique, University Microfilms, Ann Arbor, Michigan, 1989.
Bibliogr. p. 398-400
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Chimie physique et théorique ; Cristallochimie ; Cristallochimie -- Manuels ; Cristallographie ; Cristaux Index. décimale : 548 Résumé : First published in 1964, as the second edition of a 1939 original, this well-known textbook presents the fundamental principles of crystal chemistry at a level that was suitable for undergraduate students of chemistry, physics, metallurgy, mineralogy and related subjects at the time of its publication Note de contenu : Some important figures and tables -- Preface -- PART I. GENERAL PRINCIPLES OF CRYSTAL ARCHITECTURE: Ch. 1. Introduction -- Ch. 2. Interatomic binding forces and atomic structure -- Ch. 3. The ionic bond and some ionic structures -- Ch. 4 The covalent bond and some covalent structures -- Ch. 5. The metallic bond and the structures of some metallic elements -- Ch. 6. The van der Waals bond -- PART II. SYSTEMATIC CRYSTAL CHEMISTRY: Ch. 7. The elements -- Ch. 8. The structures of some simple compounds -- Ch. 9. Some structural principles -- Ch. 10. Structures containing complex ions I -- Ch. 11. Structures containing complex ions II -- Ch. 12. The structures of some compounds containing hydrogen -- Ch. 13. Alloy systems -- Ch. 14. Organic structures -- Appendices -- Index Exemplaires
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Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne - Suisse : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : c2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 1 vol. (XVI-579 p.) Présentation : ill., couv. ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Prix : 64,50 EUR Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne - Suisse (Lausanne - Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, c2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5 : 64,50 EUR
Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 33224 620.11 ESNO C Livre Sciences Libre Accès Disponible
Titre : Cristallographie Type de document : texte imprimé Auteurs : Dieter Schwarzenbach, Auteur Editeur : Lausanne - Suisse : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : c1993 Collection : Physique (Lausanne) Importance : X-274 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-246-1 Note générale : Bibliogr. p. [341`]-344. Index Langues : Français (fre) Langues originales : Allemand (ger) Catégories : Cristallographie ; Cristallographie géométrique ; Cristallographie mathématique ; Physique de l'état solide ; Radiocristallographie ; Structure cristalline (Solides) Index. décimale : 620.112 99 Cristallographie [texte imprimé] / Dieter Schwarzenbach, Auteur . - Lausanne - Suisse (Lausanne - Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, c1993 . - X-274 p. : ill. ; 24 cm. - (Physique (Lausanne)) .
ISBN : 978-2-88074-246-1
Bibliogr. p. [341`]-344. Index
Langues : Français (fre) Langues originales : Allemand (ger)
Catégories : Cristallographie ; Cristallographie géométrique ; Cristallographie mathématique ; Physique de l'état solide ; Radiocristallographie ; Structure cristalline (Solides) Index. décimale : 620.112 99 Exemplaires
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Titre : Fourier technique in X-ray organic structure analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Andrew D. Booth, Auteur Editeur : Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] : Cambridge University Press Année de publication : 1948 Collection : Cambridge series of physical chemistry Importance : 106 p. Présentation : ill. Format : 22 cm Langues : Anglais (eng) Catégories : Cristallographie ; Fourier, Analyse de ; Rayons X Index. décimale : 548.7 Résumé :
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Cristallographie ; Fourier, Analyse de ; Rayons X Index. décimale : 548.7 Résumé : Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 250 548.7 BOOT F Livre Sciences Libre Accès Exclu du prêt PermalinkPermalinkPermalinkPermalinkPermalink
