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Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Lausanne - Suisse : Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : c2011 Collection : Metis LyonTech Importance : 1 vol. (XVI-579 p.) Présentation : ill., couv. ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Prix : 64,50 EUR Note générale : Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne - Suisse (Lausanne - Suisse) : Presses polytechniques et universitaires romandes, c2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5 : 64,50 EUR
Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Cristallographie ; Matériaux Microscopie ; Microscopie électronique ; Microstructure (Physique) ; Microstructure (Physique) -- Matériaux ; Radiocristallographie ; Rayons X ; Rayons X -- Diffraction ; Spectroscopie des rayons X Mots-clés : alt. 548 Index. décimale : 620.11 Résumé : Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] Note de contenu : Éléments de cristallographie -- Diffraction par les cristaux -- Radiocristallographie X -- Diffraction par les rayonnements corpusculaires -- Imagerie électronique -- Spectroscopies X et électronique -- Réseaux et groupes à deux dimensions -- Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson -- Coefficient de Debye-Waller -- Rappels sur la structure électronique d'un atome -- Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel -- Facteur de forme et géométrie du cristal -- Relation facteur de diffusion électronique et potentiel -- Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa -- Correcteurs d'aberrations -- Compléments à l'imagerie de haute résolution -- Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 33224 620.11 ESNO C Livre Sciences Libre Accès Disponible
Titre : Fourier technique in X-ray organic structure analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Andrew D. Booth, Auteur Editeur : Cambridge [Cambridgeshire - Royaume-Uni] : Cambridge University Press Année de publication : 1948 Collection : Cambridge series of physical chemistry Importance : 106 p. Présentation : ill. Format : 22 cm Langues : Anglais (eng) Catégories : Cristallographie ; Fourier, Analyse de ; Rayons X Index. décimale : 548.7 Résumé :
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Cristallographie ; Fourier, Analyse de ; Rayons X Index. décimale : 548.7 Résumé : Exemplaires (1)
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Titre : Les Rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : Augustin Marius Arsène Boutaric (1885-1949), Auteur Mention d'édition : 1ère éd Editeur : Paris [France] : Presses universitaires de France (PUF) Année de publication : 1942 Collection : Que sais-je ?, ISSN 0768-0066 num. 70 Importance : 128 p Présentation : ill. Format : 18 cm Prix : 12 fr Note générale : Bibliogr Langues : Français (fre) Catégories : Ondes électromagnétiques ; Rayonnement ; Rayonnement ionisant ; Rayons X Index. décimale : 539.72 Les Rayons X [texte imprimé] / Augustin Marius Arsène Boutaric (1885-1949), Auteur . - 1ère éd . - Paris (106, blvd Saint-Germain, France) : Presses universitaires de France (PUF), 1942 . - 128 p : ill. ; 18 cm. - (Que sais-je ?, ISSN 0768-0066; 70) .
12 fr
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Langues : Français (fre)
Catégories : Ondes électromagnétiques ; Rayonnement ; Rayonnement ionisant ; Rayons X Index. décimale : 539.72 Exemplaires
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